歡迎訪問X射線熒光光譜儀廠家:廣州儀德精密科學儀器股份有限公司網站!
主營產品:X射線熒光光譜儀
首頁 > 產品中心 >X射線熒光光譜儀 >波長色散熒光光譜儀 >ZSX Primus III+理學波長色散型X射線熒光光譜儀

理學波長色散型X射線熒光光譜儀

型 號ZSX Primus III+

產品時間2020-04-14

所屬分類波長色散熒光光譜儀

訪問量177

產品描述:ZSX Primus III+ 日本理學波長色散型X射線熒光光譜儀提供主要和次要原子元素的快速定量測定,從氧(O)到鈾(U)的低標準的廣泛樣品類型。
產品概述

日本理學波長色散型X射線熒光光譜儀,快速定量元素分析的高性能WDXRF!理學ZSX Primus III+提供主要和次要原子元素的快速定量測定,從氧(O)到鈾(U)的低標準的廣泛樣品類型。

 

 

 

ZSX Primus III+理學波長色散型X射線熒光光譜儀具有場新的上照射式光學配置。用戶再也不用擔心由于維護樣品室導致的路徑污染或停止時間。上照射式幾何結構消除了清掃的擔心并增加了時間。

 

 

 

高精度樣品定位確保了樣品表面與X設吸納管之間的距離恒定。這對例如合金分析等需要高精度的應用非常重要。ZSX Primus III+使用一個獨特的光學配置執行高精度分析,用于減少由于例如電熔銖和壓片等樣品中的非平面表面導致的錯誤。

 

 

 

用戶使用EZ掃描軟件可以在無需任何事先設置即可分析位置樣品。這個節省時間的特征僅需點擊鼠標和輸入樣品名稱。結合SQX基本參數軟件,快速提供準確的XRF結果。SQX能夠自動校正包括線重疊的所有矩陣效果。SQX還可以通過光電子(輕、超輕元素)、變化的環境、雜質和不同的樣品尺寸校正輔助的激發效應。使用匹配庫和完美的掃描分析程序提高準確性。

 

 

上照射式波長色散X射線熒光光譜儀

 

 

 

從O到U的元素分析

上照射式光學小化污染

小占地面積節省實驗室空間

高精度樣品定位

特殊光學減少由于彎曲的樣品表面造成的錯誤

統計過程控制(SPC)的軟件工具

優化抽空和真空泄露率改善吞吐量

 

留言框

  • 產品:

  • 您的單位:

  • 您的姓名:

  • 聯系電話:

  • 常用郵箱:

  • 省份:

  • 詳細地址:

  • 補充說明:

  • 驗證碼:

    請輸入計算結果(填寫阿拉伯數字),如:三加四=7
在線客服
暖暖视频免费高清日本_成年轻人免费视频网站_露性器全程啪到尾的电影
掃一掃訪問手機站掃一掃訪問手機站
訪問手機站