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主營產品:X射線熒光光譜儀

上照式波長色散光譜儀

型 號

產品時間2020-06-08

所屬分類上照式波長色散光譜儀

訪問量316

產品描述:上照式波長色散光譜儀分析裝置。具備支持測定、解析的“ZSX Guidance",即使是初學者也能簡單地得到正確的分析結果。通過數字計數系統、高速驅動的測距計、優化的控制系統,實現高速、高精度測量。通過人工多層累積膜和真空控制機構也可以進行超輕元素測量。這是一款搭載了防人類錯誤功能等安心、安全設計、點映射分析和散射線SQX功能的高規格機型。
產品概述

日本理學上照式波長色散光譜儀具備支持測定、解析的“ZSX Guidance”,即使是初學者也能簡單地得到正確的分析結果。通過數字計數系統、高速驅動的測距計、優化的控制系統,實現高速、高精度測量。通過人工多層累積膜和真空控制機構也可以進行超輕元素測量。這是一款搭載了防人類錯誤功能等安心、安全設計、點映射分析和散射線SQX功能的高規格機型。

上照式波長色散光譜儀采用了可以放心進行例程分析的上表面照射方式。即使粉末樣品中的粉末飛散,也不會對光學系統產生影響。為了保護樣品,不需要膠卷。

用于膜厚、附著量分析的測量線檢索、分析評價程序,可以得到精度分析的分析線的組合、分析線的分析深度信息、上層吸收比例的模擬結果和干擾線的信息。

只需輸入標準樣品的準值和樣品信息,即可自動設定分析線、光學系統的設定、共存元素校正、重疊校正,初學者也可輕松保存校準線。

通過對樣品的高速搬運、高速驅動的計算器、高速數據處理、高效的各驅動部的控制,提高了吞吐量。定性分析時間約為40%,定量分析可縮短約20%(與本公司相比),每單位時間可增加樣品處理數量。

X射線計數系統采用數字多通道分析器(D-MCA)。通過高速數字處理實現了高計數率范圍內的計數線性,提高了分析精度。大計數率(計數線性1%):SC 1800 kcps、FPC3000kcps

通過匯總日常例程分析所需操作的“輕松分析”,可簡單調用一系列分析設置,或將頻繁使用的應用程序注冊到“收藏”中。

配備了高分辨率照相機,可以清晰地顯示樣品整體圖像中部分的放大圖像。這樣,即使在微細區域也能正確位置。另外,通過r-θ樣品階段,可以以相同的靈敏度測量所有測量位置,因此可以進行正確的分析。

您可以為每個操作人員設置訪問軟件的級別。這樣就可以防止由于新手操作失誤而導致的數據庫變更和刪除。程序菜單的顯示和隱藏設置可以根據用戶級別仔細選擇,防止人為錯誤。

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